掃描電鏡（SEM），能夠提供高分辨率的表面信息及出色的材料對(duì)比度。它們被廣泛應(yīng)用于電鏡科學(xué)及應(yīng)用領(lǐng)域，如納米技術(shù)、材料分析、半導(dǎo)體失效分析、生命科學(xué)和質(zhì)量控制等。

隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，如今的SEM掃描電鏡已經(jīng)成功的結(jié)合了高性能的掃描電鏡和優(yōu)良的用戶(hù)界面體驗(yàn)，這無(wú)論是對(duì)掃描電鏡有經(jīng)驗(yàn)的人，還是沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的人都很具有吸引力。掃描電鏡憑借很多的可選配置，在生命科學(xué)，材料科學(xué)領(lǐng)域被很多人選擇，掃描電鏡也可以根據(jù)客戶(hù)要求進(jìn)行定制。

 SEM掃描電鏡具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，提供的成像品質(zhì)十分好。

標(biāo)配能譜儀和波譜儀接口，另有用于**形貌與化學(xué)分析的全集成式顆粒分析和識(shí)別解決方案可供選擇。

掃描電鏡的五象限背散射電子探測(cè)器有助于增強(qiáng)低電壓性能及提供更豐富的形態(tài)信息。對(duì)于非導(dǎo)電樣品，電子束襯管技術(shù)可有效提高分辨率。

 SEM掃描電鏡在學(xué)術(shù)和研究機(jī)構(gòu)中使用的一般屬于分析型。可以提供優(yōu)異的成像品質(zhì)的同時(shí)，同時(shí)還具有處理多種材料的能力。結(jié)合軟件的易用性，使其成為多種研究領(lǐng)域的不錯(cuò)選擇，范圍涵蓋半導(dǎo)體和電子技術(shù)、地質(zhì)科學(xué)及材料研究。

上面就是給大家介紹的掃描電鏡在材料和生命科學(xué)中的應(yīng)用，希望對(duì)大家有所幫助，更多關(guān)于掃描電鏡的相關(guān)知識(shí)可以電話(huà)聯(lián)系我們。