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SEM掃描電鏡的類型有哪些

日期:2024-10-23 11:37:20 瀏覽次數(shù):54

掃描電鏡的類型主要根據(jù)其電子槍的種類、分辨率、應(yīng)用領(lǐng)域等特點(diǎn)進(jìn)行分類。以下是一些主要的SEM掃描電鏡類型:

一、按電子槍種類分類

鎢燈絲掃描電鏡

特點(diǎn):總發(fā)射電流和束斑都較大,抗干擾能力和穩(wěn)定性較好。

應(yīng)用:適合大量的常規(guī)檢測,如形貌觀察、顯微結(jié)構(gòu)分析、斷口形貌分析等。在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)、化工、物理、電子、生物、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的用途。

掃描電鏡.jpg

場發(fā)射掃描電鏡

特點(diǎn):高分辨率,分為冷場和熱場兩種。冷場發(fā)射掃描電鏡的發(fā)射面積較小、能量集中,便于將電子束聚焦于一個很小的點(diǎn)以提高分辨率;熱場發(fā)射掃描電鏡則通過采取各種有效措施,將電子束匯聚于一個理想的點(diǎn),達(dá)到冷場發(fā)射電鏡的分辨率水平。

應(yīng)用:適用于納米材料精細(xì)形貌的觀察,可產(chǎn)生高質(zhì)量高分辨二次電子圖像。該儀器配備的X射線能譜儀可對塊狀樣品做定性及半定量分析,適用于物理、材料、半導(dǎo)體、超導(dǎo)體、化學(xué)高分子、地質(zhì)礦物、生物、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的微觀研究和分析。

二、按分辨率和應(yīng)用領(lǐng)域分類

高分辨率掃描電鏡

特點(diǎn):分辨率極高,能夠清晰呈現(xiàn)樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)。

應(yīng)用:適用于需要高分辨率成像的領(lǐng)域,如納米技術(shù)、材料科學(xué)等。

環(huán)境掃描電鏡

特點(diǎn):采用多級真空壓差技術(shù),在保持電子槍和鏡筒的高真空狀態(tài)下,樣品室內(nèi)可以保持較高的氣壓及較高的濕度和壓力,而且溫度可調(diào)。

應(yīng)用:解決了生物樣品失水變形問題,樣品無須干燥及鍍膜,能保持生物活體形態(tài)結(jié)構(gòu)的真實(shí)性。既可以在高真空狀態(tài)下工作,又可以在低真空狀態(tài)下工作。適用于觀察新鮮活體生物樣品以及濕潤試樣。

其他專用掃描電鏡

根據(jù)特定應(yīng)用領(lǐng)域的需求而設(shè)計(jì)的掃描電鏡,如用于半導(dǎo)體制造的芯片檢測掃描電鏡、用于地質(zhì)學(xué)研究的礦物成分分析掃描電鏡等。

三、按功能分類

普通掃描電鏡

主要用于觀察樣品的形貌和微觀結(jié)構(gòu)。

組合掃描電鏡

如SEM-EDS(掃描電鏡+能譜儀)組合設(shè)備,能夠同時實(shí)現(xiàn)樣品的形貌觀察和元素成分分析。

綜上所述,SEM掃描電鏡的類型多種多樣,每種類型都有其獨(dú)特的特點(diǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域。在選擇SEM掃描電鏡時,需要根據(jù)具體的研究需求和應(yīng)用場景進(jìn)行選擇。